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多功能离子减薄仪
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Leica EM RES102 多功能离子减薄仪
可对样品进行离子束减薄,清洁,截面切割,抛光以及衬度增强,这极大满足了您对应用需求的多样化和便利性。 操作简便› 19”触摸屏电脑控制单元,监控并记录制样过程› 内置应用参数库› 程序化制样
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Leica EM RES102 多功能离子减薄仪
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Leica EM RES102 多功能离子减薄仪
使用徕卡 EM RES102,使您的样品具备高水平的灵活性,具有轻薄、清洁、抛光、切割的坡度和结构。独特的离子束研磨系统结合了在一个单工作台面单元上制备TEM、SEM和LM样品的特点。各种样品架可以
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Leica EM RES102多功能离子减薄仪
多功能离子减薄仪EM RES102Leica EM RES102 通过离子枪激发获得离子束,以一定入射角度对样品进行轰击,以去除样品表面原子,从而实现对样品的离子束加工。Leica EM
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Gentle Mill离子减薄仪/离子精修仪
Gentle Mill 离子精修仪专为最终抛光、精修和改善 FIB 处理后的样品而设计。非常适合要求样品无加工痕迹、表面几乎没有任何损坏的 XTEM、HRTEM 或 STEM 的用户。
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离子减簿仪 Leica EM RES102 Leica EM RES102
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Leica EM TIC020 离子减薄
仪器简介:三重离子束的斜面切割功能为扫描电镜分析样品提供精确和高效的样品制备技术参数:减薄深度速度 1500um 120um/H 三束离子枪 高真空,内置2级泵主要特点:大多数的
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离子减薄仪
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离子减薄仪
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